蘇州訊芯微電子設(shè)備有限公司主營 X-RAY  AOI  SPI 貼片機(jī) 周邊設(shè)備 回流焊的出售、租賃，以及全新設(shè)備的售賣。有的營銷團(tuán)隊(duì)提供周到的服務(wù)，我們將根據(jù)貴司產(chǎn)品以實(shí)際生產(chǎn)需要合理配置所需機(jī)型，我司提供技術(shù)支持、生產(chǎn)培訓(xùn)及相關(guān)技術(shù)人員。只要是客戶你想要的，我們都能盡努力去辦到。
Dage XD7500VR X光檢查機(jī)
產(chǎn)品特點(diǎn)：
Dage X光檢查機(jī)用于破壞性和非破壞性機(jī)械測試，以及電子元件的檢測。
Nordson DAGE 獲獎(jiǎng)的X射線檢測系統(tǒng)專為印制電路板 (PCB) 和半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計(jì)，并且采用了符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)，可提供高分辨率納米級(jí)焦距X射線系統(tǒng)，不僅可用于實(shí)驗(yàn)室故障分析，也可用于生產(chǎn)環(huán)境
Dage NT密封傳送型X射線管是Dage NT X射線檢測系統(tǒng)的核心部件. 其取代了早期系統(tǒng)中使用的閉合式管和開放式管，性能得到了很大的提升。
只有采用密封傳送管才能切實(shí)提高X射線圖像的分辨率，同時(shí)還能提供大功率，而不影響分辨率和放大倍率。
型號(hào)：XD7500VR
產(chǎn)品參數(shù)：
規(guī)格:XD7500VR
尺寸(長x寬x高):1450 x 1700 x 1970
重量:1900 KG
小聚集光點(diǎn):0.95micron
Ｘ光發(fā)射管:開放管
X 射線管電壓范圍:30-160 KV
檢測面積:458 x 407
DAGE XD-7500VR
板尺寸: 508 x 444
樣本重量:5 KG
電源:單相 200-230V/16A
斜角視圖:0-70°(360°檢測)
系統(tǒng)（幾何）放大倍率:1200x
安全標(biāo)準(zhǔn):1u Sv/Hr(符合標(biāo)準(zhǔn)）
產(chǎn)品規(guī)格：
小分辨率：950納米(0.95 微米)；
影像左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度；
圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD；
檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 )；
樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444)；
系統(tǒng)放大倍數(shù): 至5650X；
顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
安全性: 在機(jī)器表面任何地方X光泄露率 < 1 u Sv/hr 等等

產(chǎn)品名稱：X-eye 微焦X-RAY檢測設(shè)備產(chǎn)品型號(hào)：X-eye 5000BTS產(chǎn)品特點(diǎn)：90kV微焦X射線管
樣品尺寸達(dá)460 x 340
放大倍率達(dá)400x
預(yù)設(shè)檢查條件功能 (運(yùn)動(dòng)模式數(shù)控編程)
配備各種測量和注釋工具
X射線檢測**解決方案X-eye 5000BTS型號(hào)是針對常規(guī)無損檢測和缺陷分析而設(shè)計(jì)的一款高性能X-ray檢測設(shè)備。
X-eye 5000BTS型號(hào)裝載有90kV微焦閉管，焦斑尺寸達(dá)5μm，可提供高質(zhì)量清晰圖像。
配備有多種控制軸系統(tǒng)的X-eye 5000BTS型號(hào)設(shè)備可以操控樣品從任何倍率，任何傾斜角度下進(jìn)行檢測。
設(shè)備裝載的預(yù)設(shè)檢查條件功能，使檢查系統(tǒng)升級(jí)為半自動(dòng)化設(shè)備。
操作界面友好，配備各種測量和備注工具，使用方便快捷。

射線探傷是利用放射線(X射線、γ射線或其他高能射線)能夠穿透金屬材料，并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法，簡稱RT。X射線、γ射線均為不可見光，是一種具有較短波長的電磁波。其主要特性有：
(1)人眼不可見，射線直線傳播;
(2)不受電場和磁場的影響，其本質(zhì)是不帶電的;
(3)能透過可見光所不能透過的物質(zhì)，包括金屬材料;
(4)能使某些物質(zhì)起光化學(xué)作用，使膠片感光，使某些物質(zhì)發(fā)生熒光作用;
(5)能被物質(zhì)的原子吸收和散射，從而在穿透物質(zhì)的過程時(shí)發(fā)生衰減現(xiàn)象;
(6)對有機(jī)體產(chǎn)生生理作用，傷害及殺死有生命的。
當(dāng)射線穿透被檢驗(yàn)的金屬時(shí)，由于原子對射線的吸收與散射作用，射線的強(qiáng)度受到削弱，材料厚度越大，強(qiáng)度減弱越多。如果在X射線、γ射線穿透途中，遇到材料內(nèi)部的各種缺陷，如氣孔、夾渣、裂縫等，由于這些缺陷對射線的衰減作用，比毗鄰的致密金屬要小得多，從而使照相底片或熒光屏上呈現(xiàn)不同黑度的影像，由此即可判別缺陷的性質(zhì)和大小。
射線探傷適用于各類鋼材、有色金屬材料等，特別適用于檢查焊縫的質(zhì)量。它具有發(fā)現(xiàn)缺陷直觀、檢查結(jié)果準(zhǔn)確可靠、可將底片保留備查等優(yōu)點(diǎn)。
日聯(lián)科技制造的UNC系列X射線無損探傷檢測機(jī)，檢測速度快，檢查全面，是工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制的一個(gè)重要部分。隨著科技進(jìn)展的步伐，X射線檢測技術(shù)也在不斷完善。其產(chǎn)品在檢測性能上，安全性上已得到市場的廣泛認(rèn)可且久經(jīng)考驗(yàn)。

X射線(X-ray)檢測儀是在不損壞被檢物品的前提下使用低能量X 光，快速檢測出被檢物。
　　利用高電壓撞擊靶材產(chǎn)生X射線穿透來檢測電子元器件、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)構(gòu)造品質(zhì)、以及SMT各類型焊點(diǎn)焊接質(zhì)量等 [1]  。
型號(hào)：XD7500NT
參考標(biāo)準(zhǔn)：《IPC-A-610E電子組裝件的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)》、《GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則》
測試項(xiàng)目：
1、集成電路的封裝工藝檢測：層剝離、開裂、空洞和打線工藝；
2、印刷電路板制造工藝檢測：焊線偏移，橋接，開路；
3、表面貼裝工藝焊接性檢測：焊點(diǎn)空洞的檢測和測量；
4、連接線路檢查：開路，短路，異常或不良連接的缺陷；
5、錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗(yàn)；
6、高密度的塑料材質(zhì)破裂或金屬材質(zhì)檢驗(yàn)；
7、芯片尺寸量測，打線線弧量測，組件吃錫面積比例量測。