



產(chǎn)品描述
蘇州訊芯微電子設(shè)備有限公司主營(yíng) X-RAY AOI SPI 貼片機(jī) 周邊設(shè)備 回流焊的出售、租賃,以及全新設(shè)備的售賣(mài)。有的營(yíng)銷(xiāo)團(tuán)隊(duì)提供周到的服務(wù),我們將根據(jù)貴司產(chǎn)品以實(shí)際生產(chǎn)需要合理配置所需機(jī)型,我司提供技術(shù)支持、生產(chǎn)培訓(xùn)及相關(guān)技術(shù)人員。只要是客戶你想要的,我們都能盡努力去辦到。
鑄件是用各種鑄造方法獲得的金屬成型物件,即把冶煉好的液態(tài)金屬,用澆注、壓射、吸入或其它澆鑄方法注入預(yù)先準(zhǔn)備好的鑄型中,冷卻后經(jīng)打磨等后續(xù)加工手段后,所得到的具有一定形狀,尺寸和性能的物件。鑄件的用途非常廣泛,已運(yùn)用到五金、及整個(gè)機(jī)械電子行業(yè)等,而且其用途正在成不斷擴(kuò)大的趨勢(shì)。具體用到,建筑,五金,設(shè)備,工程機(jī)械等大型機(jī)械,機(jī)床,船舶,航空航天,汽車(chē),機(jī)車(chē),電子,計(jì)算機(jī),電器,燈具等行業(yè),很多都是普通老百姓整天接觸,但不了解的金屬物件。
鑄件與同種材料的鍛件相比,因液態(tài)成型組織疏松、晶粒粗大,內(nèi)部易產(chǎn)生縮孔、縮松、氣孔、夾雜等缺陷。因此使用X-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備對(duì)鑄件進(jìn)行檢測(cè)很有必要。
運(yùn)用X-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,利用X光鑄件內(nèi)部,射線的強(qiáng)度就會(huì)受到鑄件內(nèi)部缺陷的影響。穿過(guò)鑄件射出的強(qiáng)度隨著缺陷大小、性質(zhì)的不同而有局部的變化,形成缺陷的實(shí)時(shí)圖像,缺陷圖像是直觀的,缺陷形狀、大小、數(shù)量、平面位置和分布范圍都能呈現(xiàn)出來(lái)。同時(shí)X-ray檢測(cè)設(shè)備可以跟廠家的生產(chǎn)線對(duì)接,可以實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品在線的檢測(cè)。
制造的X射線無(wú)損探傷機(jī),檢測(cè)速度快,檢查全面,是相關(guān)行業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制的一個(gè)重要部分。隨著科技進(jìn)展的步伐,X射線檢測(cè)技術(shù)也在不斷完善,為各行業(yè)提供更安全而的檢測(cè)設(shè)備。
鋁鑄件廣泛的應(yīng)用于汽車(chē)零部件、機(jī)械制造、計(jì)算機(jī)、電子、器械、鐘表儀器、五金產(chǎn)品、航空航天等行業(yè)。主要是因?yàn)殇X鑄件外表光滑、實(shí)用性高、尺寸等。一般鑄件生產(chǎn)工藝主要為:選擇材料-熔煉-低壓鑄造-X-ray檢查-清理、噴砂、去毛刺-熱處理-機(jī)械加工-表面處理,但往往成品的鑄件存在太多的缺陷,主要原因是:
夾雜:由于技術(shù)工人操作不當(dāng)、爐子里面的選料不干凈,一般分布在鑄件連接處,看起來(lái)發(fā)黃呈現(xiàn)灰白色。
氣孔:在生產(chǎn)過(guò)程中,空氣不流通,摻雜了空氣進(jìn)去。一般是橢圓形或者圓形氣泡。
疏松:一般由于鑄件設(shè)計(jì)不合理,出現(xiàn)在內(nèi)部較薄的壁面,呈現(xiàn)絲條狀缺陷,看似云霧的樣子。
裂紋:較多都出現(xiàn)在形狀復(fù)雜的鑄件中,在熱處理過(guò)程中由于較高溫度膨脹后,收縮產(chǎn)生。
在所有無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域中,鑄件X射線檢測(cè)是佳的檢測(cè)方式。近幾年,隨著高分辨率X射線檢測(cè)系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)及測(cè)試,眾多的鑄件生產(chǎn)廠商選擇了X射線檢測(cè)鑄件來(lái)保證產(chǎn)品質(zhì)量,一般每臺(tái)壓鑄機(jī)標(biāo)準(zhǔn)配備一臺(tái)工業(yè)X射線成像檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行抽檢或者在線批量檢測(cè)。日聯(lián)科技鑄件X射線智能檢測(cè)裝備目前已經(jīng)為國(guó)內(nèi)外多家壓鑄生產(chǎn)企業(yè)提供檢測(cè)服務(wù),其中機(jī)械、電氣及圖像處理軟件研發(fā)獲得國(guó)家多項(xiàng)發(fā)明及軟件著作權(quán)。
錫爐
一般情況下,錫爐是指電子接焊接中使用的一種焊接工具。對(duì)于分立元件線路板焊接一致性好,操作方便、快捷、工作效率高,是您生產(chǎn)加工的好幫手。
X-ray檢測(cè)
X-RAY無(wú)損檢測(cè)X光射線 (以下簡(jiǎn)稱X-Ray) 是利用一陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過(guò)程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出,其具有非常短的波長(zhǎng)但高電磁線。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式檢測(cè)的位置,利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化,產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu),進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。
檢測(cè)項(xiàng)目:
1.IC封裝中的缺陷檢驗(yàn)如﹕層剝離(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打線的完整性檢驗(yàn)。
2.印刷電路板制程中可能產(chǎn)生的缺陷,如﹕對(duì)齊不良或橋接(bridging)以及開(kāi)路(open)。
3.SMT焊點(diǎn)空洞(cavity)現(xiàn)象檢測(cè)與量測(cè)(measuration)。
4.各式連接線路中可能產(chǎn)生的開(kāi)路(open),短路(short)或不正常連接的缺陷檢驗(yàn)。
5.錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球(solder ball)的完整性檢驗(yàn)。
6.密度較高的塑料材質(zhì)破裂(plastic burst)或金屬材質(zhì)空洞(metal cavity)檢驗(yàn)。
7.芯片尺寸量測(cè)(dimensional measurement),打線線弧量測(cè),組件吃錫面積(Solder area)比例量測(cè)。
DAGE X-ray產(chǎn)品設(shè)計(jì)滿足PCB和半導(dǎo)體工業(yè)的增長(zhǎng)需求,用戶可以輕松獲取高質(zhì)量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測(cè)物任何方位的圖像。
產(chǎn)品參數(shù):規(guī)格:XD7500VR尺寸(長(zhǎng)x寬x高):1450 x 1700 x 1970重量:1900 KG***聚集光點(diǎn):0.95micronX光發(fā)射管:開(kāi)放管X 射線管電壓范圍:30-160 KV***檢測(cè)面積:458 x 407***板尺寸: 508 x 444***樣本重量:5 KG電源:單相 200-230V/16A斜角視圖:0-70°(360°***檢測(cè))系統(tǒng)(幾何)放大倍率:1200x安全標(biāo)準(zhǔn):1uSv/Hr(符合標(biāo)準(zhǔn))
DAGE X-ray 檢查儀設(shè)計(jì)滿足PCB和半導(dǎo)體工業(yè)的增長(zhǎng)需求,用戶可以輕松獲取高質(zhì)量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測(cè)物任何方位的圖像。由于采用開(kāi)管(Open Tube)技術(shù),在放大倍數(shù)方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了采用閉管(Closed Tube)技術(shù)的***檢測(cè)儀達(dá)到亞微米級(jí),能滿足客戶更高精度需求。
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